分野

研究機関

概要

ナノスケールで材料を超微細加工可能な集束イオンビーム（ＦＩＢ）加工を活用することで、材料を構成している微視組織（結晶粒界や析出物、第二相等）からミクロンサイズの超微小試験片を作製可能です。さらに、我々が開発したＦＩＢ加工装置や透過型電子顕微鏡内でその場観察しながら引張試験が可能な装置と組み合わせることで、これまで得られなかった特定の微小領域の機械的性質や界面等の破壊挙動の直接計測が可能となります。